Fehleranalyse bei Elektronik-Prototypen: Oberflächencharakterisierung komplexer Leiterplatten richtig durchführen
Die Fehleranalyse bei Leiterplatten gehört zu den anspruchsvollsten Aufgaben in der modernen Elektronikentwicklung. Gerade bei Prototypen offenbaren sich häufig Defekte, die auf den ersten Blick unsichtbar sind – Oxidationsschichten, Kontaminationen oder Delaminierungen können das Verhalten einer Schaltung erheblich beeinflussen, ohne dass ein visueller Befund möglich wäre. Um solche Probleme zuverlässig zu identifizieren, ist eine systematische […]









